金融界2024年7月23日消息，天眼查知識產(chǎn)權(quán)信息顯示，杭州廣立微電子股份有限公司申請一項名為“故障檢測方法、裝置、計算機設(shè)備以及存儲介質(zhì)“，公開號 CN202410805413.0，申請日期為 2024 年 6 月。

專利摘要顯示，本申請涉及一種故障檢測方法、裝置、計算機設(shè)備以及存儲介質(zhì)。加載自動化設(shè)備的多條時序數(shù)據(jù)，生成多條歷史時序數(shù)據(jù)并確定歷史數(shù)據(jù)均值序列；對多條歷史時序數(shù)據(jù)進行特征采樣，確定目標樣本數(shù)據(jù)，并基于目標樣本數(shù)據(jù)對深度學習模型進行模型訓練，確定故障檢測模型；獲取自動化設(shè)備的傳感器參數(shù)，根據(jù)歷史數(shù)據(jù)序列長度和歷史數(shù)據(jù)均值序列確定目標窗口數(shù)據(jù)；根據(jù)目標窗口數(shù)據(jù)、歷史數(shù)據(jù)均值序列和故障檢測模型確定線上數(shù)據(jù)浮動誤差和目標數(shù)據(jù)浮動誤差；根據(jù)線上數(shù)據(jù)浮動誤差、目標數(shù)據(jù)浮動誤差確定目標窗口數(shù)據(jù)的異常點以反饋自動化設(shè)備的設(shè)備故障信息。上述方案，能夠在自動化設(shè)備運行過程中出現(xiàn)異常時標記出異常時間點，提高產(chǎn)品良率。

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